Citace podle APA (7th ed.)

Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.

Citace podle Chicago (17th ed.)

Glaisher, R., a D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

Citace podle MLA (9th ed.)

Glaisher, R., a D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..