Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Glaisher, R., και D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)

Glaisher, R., και D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.