APA (7th ed.) մեջբերում

Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.

Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերում

Glaisher, R., and D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

MLA (9րդ խմբ.) Մեջբերում

Glaisher, R., and D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.