APA-ийн эшлэл(7 дахь хэвлэлт)

Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.

Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)

Glaisher, R., ба D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)

Glaisher, R., ба D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.

Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.