Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Glaisher, R., và D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Glaisher, R., và D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.