İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMI...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Glaisher, R
,
Cockayne, D
Materyal Türü:
Journal article
Baskı/Yayın Bilgisi:
1993
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
DISLOCATION GEOMETRIES IN SEMICONDUCTORS AND IN SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES
Yazar:: Cockayne, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)
LATTICE FRINGE IMAGING OF MODULATED STRUCTURES
Yazar:: Cockayne, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1981)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)
Limitations on the s-state approach to the interpretation of sub-angstrom resolution electron microscope images and microanalysis.
Yazar:: Anstis, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2003)
CRITICAL THICKNESS DETERMINATION OF INXGA1-XAS/GAAS STRAINED-LAYER SYSTEM BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
Yazar:: Zou, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)