Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
Näytä muut versiot (1)
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
King, R
,
Mackenzie, R
,
Smith, G
,
Cade, N
,
Vide, S
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
1994
Saatavuustiedot
Kuvaus
Muut versiot (1)
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
Tekijä: King, R, et al.
Julkaistu: (1995)
ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
Tekijä: King, R, et al.
Julkaistu: (1995)
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
Tekijä: Huang, M, et al.
Julkaistu: (1994)
ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
Tekijä: King, R, et al.
Julkaistu: (1994)
STUDIES OF POROUS SILICON FIELD EMITTERS
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1994)