FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS

Näytä muut versiot (1)

Bibliografiset tiedot
Päätekijät:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N, Vide, S
Aineistotyyppi:	Conference item
Julkaistu:	1994

Samankaltaisia teoksia

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
Tekijä: King, R, et al.
Julkaistu: (1995)

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
Tekijä: King, R, et al.
Julkaistu: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
Tekijä: Huang, M, et al.
Julkaistu: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
Tekijä: King, R, et al.
Julkaistu: (1994)

STUDIES OF POROUS SILICON FIELD EMITTERS
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
Tekijä: Bhatti, A, et al.
Julkaistu: (1985)

Polycrystalline silicon field emitters
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1995)

Polycrystalline silicon field emitters
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1996)

Use of coated silicon field emitters as neutralisers for fundamental physics space missions
Tekijä: Aplin, K, et al.
Julkaistu: (2011)

Use of coated silicon field emitters as neutralisers for fundamental physics space missions
Tekijä: Aplin, K, et al.
Julkaistu: (2011)

STUDIES OF POROUS SILICON FIELD EMITTERS
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1995)

Fabrication of gated polycrystalline silicon field emitters
Tekijä: Huq, SE, et al.
Julkaistu: (1996)

AIN coatings on silicon field emitters and oxidised gates to enhance reliability for space applications
Tekijä: Wang, L, et al.
Julkaistu: (2004)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
Tekijä: Huang, Yu, editor, et al.
Julkaistu: (2014)

CHARACTERIZATION OF GRIDDED FIELD EMITTERS
Tekijä: Huang, M, et al.
Julkaistu: (1994)

Anodisation of gridded silicon field emitter arrays
Tekijä: Huang, M, et al.
Julkaistu: (1997)

Characterisation of porous silicon field emitter properties
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1995)

Characterization of porous silicon field emitter properties
Tekijä: Boswell, E, et al.
Julkaistu: (1996)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Tekijä: Godfrey, T, et al.
Julkaistu: (1989)

FIELD DESORPTION MICROSCOPY OF CARBON-COATED FIELD ELECTRON EMITTERS
Tekijä: D.P. Bernatskii, et al.
Julkaistu: (2021-12-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
Tekijä: Miller, M, et al.
Julkaistu: (1981)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
Tekijä: Tan, Eu Jin, et al.
Julkaistu: (2013)

Transmission electron microscope studies of emitters of silicon bipolar transistors
Tekijä: Gold, D, et al.
Julkaistu: (1989)

Enhanced field emission from polysilicon emitters using porous silicon
Tekijä: Pullen, SE, et al.
Julkaistu: (1996)

Modelling of the field emission microtriode with emitter covered with porous silicon
Tekijä: Nicolaescu, D, et al.
Julkaistu: (1996)

Microfabrication and characterization of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
Tekijä: Huq, SE, et al.
Julkaistu: (1998)

Reliability tests of gated silicon field emitters for use in space
Tekijä: Aplin, K, et al.
Julkaistu: (2004)

Microfabrication and characterisation of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
Tekijä: Huq, SE, et al.
Julkaistu: (1997)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
Tekijä: Abdugafur T. Mamadalimov, et al.
Julkaistu: (2024-06-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
Tekijä: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, et al.
Julkaistu: (2023-09-01)

Highly scaled silicon field emitter arrays with integrated silicon nanowire current limiters
Tekijä: Guerrera, Stephen A. (Stephen Angelo)
Julkaistu: (2016)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
Tekijä: Warren, P, et al.
Julkaistu: (1992)

Investigation of fabrication uniformity and emission reliability of silicon field emitters for use in space
Tekijä: Wang, L, et al.
Julkaistu: (2006)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
Tekijä: Kyuseon Jang, et al.
Julkaistu: (2021-07-01)

Simulation Modelling of Silicon Gated Field Emitter Based Electronic Circuits
Tekijä: Hay, Robert, et al.
Julkaistu: (2023)

Residual gas effects on the emission characteristics of silicon field emitter arrays
Tekijä: Gilkes, M, et al.
Julkaistu: (2000)

Simulation Modelling of Silicon Gated Field Emitter Based Electronic Circuits
Tekijä: Robert Hay, et al.
Julkaistu: (2023-11-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1983)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
Tekijä: Hono, K., et al.
Julkaistu: (1998-01-01)