Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.

The implementation of fast pulsed laser has significantly improved the performance of the atom probe technique by enabling near-atomic-scale three-dimensional analysis of poorly conducting materials. This has broadened the range of applications for the atom probe, addressing a major limitation of th...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Gault, B, La Fontaine, A, Moody, M, Ringer, S, Marquis, E
Định dạng:	Journal article
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	2010

Những quyển sách tương tự

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2008)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Spatial resolution in atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2009)

Atom probe crystallography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2012)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2009)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2012)

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2008)

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography
Bằng: Zheng, R, et al.
Được phát hành: (2009)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
Bằng: Breen, A, et al.
Được phát hành: (2013)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
Bằng: Breen, A, et al.
Được phát hành: (2015)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
Bằng: Ringer, S, et al.
Được phát hành: (2007)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2010)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2011)

Interfacial chemistry in an InAs/GaSb superlattice studied by pulsed laser atom probe tomography
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2012)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2007)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
Bằng: Araullo-Peters, V, et al.
Được phát hành: (2012)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2008)

Towards model-driven reconstruction in atom probe tomography
Bằng: Fletcher, C, et al.
Được phát hành: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
Bằng: Tang, F, et al.
Được phát hành: (2010)

Phase separation in thick InGaN layers - A quantitative, nanoscale study by pulsed laser atom probe tomography
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2012)

Atom Probe Microscopy /
Bằng: Gault, Baptiste author 632642, et al.
Được phát hành: (2012)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
Bằng: Xie, K, et al.
Được phát hành: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Bằng: Jenkins, BM, et al.
Được phát hành: (2020)

Automated calibration of model-driven reconstructions in atom probe tomography
Bằng: Fletcher, C, et al.
Được phát hành: (2022)

Quantitative analysis of carbon in cementite using pulsed laser atom probe.
Bằng: Kitaguchi, H, et al.
Được phát hành: (2014)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2006)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Bằng: Muller, M, et al.
Được phát hành: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Bằng: Müller, M, et al.
Được phát hành: (2010)