Imaging nonradiative point defects buried in quantum wells using cathodoluminescence

Imaging nonradiative point defects buried in quantum wells using cathodoluminescence

<p>Crystallographic point defects (PDs) can dramatically decrease the efficiency of optoelectronic semiconductor devices, many of which are based on quantum well (QW) heterostructures. However, spatially resolving individual nonradiative PDs buried in such QWs has so far not been demonstrated...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Weatherley, TFK, Liu, W, Osokin, V, Alexander, DTL, Taylor, RA, Carlin, J-F, Butté, R, Grandjean, N
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: American Chemical Society 2021

Նմանատիպ նյութեր

Նմանատիպ նյութեր