High resolution structural characterization of giant magnetoresistance structures containing a nano-oxide layer
Автори: | You, C, Cerezo, A, Clifton, P, Folks, L, Carey, M, Petford-Long, A |
---|---|
Формат: | Journal article |
Опубліковано: |
2007
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
The effect of interfacial regions on the giant magnetoresistance in as-grown and annealed Fe/Cr MLFs
за авторством: Ho, E, та інші
Опубліковано: (1999) -
Mechanisms by which oxygen acts as a surfactant in giant magnetoresistance film growth
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (2003) -
Three-dimensional atom probe investigation of boron distribution in CoFeB/MgO/CoFeB magnetic tunnel junctions
за авторством: Pinitsoontorn, S, та інші
Опубліковано: (2008) -
Giant magnetoresistance : new research /
за авторством: Torres, Adrian D., та інші
Опубліковано: (2009) -
Thermal resistance investigation of the giant magnetoresistance thin layers by the PTD technique
за авторством: Yacoubi N., та інші
Опубліковано: (2012-06-01)