Langford, R., Huang, Y., Lozano-Perez, S., & Titchmarsh, J. (2001). Preparation of site specific transmission electron microscopy plan-view specimens using a focused ion beam system.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Langford, R., Y. Huang, S. Lozano-Perez, và J. Titchmarsh. Preparation of Site Specific Transmission Electron Microscopy Plan-view Specimens Using a Focused Ion Beam System. 2001.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Langford, R., et al. Preparation of Site Specific Transmission Electron Microscopy Plan-view Specimens Using a Focused Ion Beam System. 2001.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.