Design and Testing of a Quadrupole/Octupole C3/C5 Aberration Corrector.

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2005 in Honolulu, Hawaii, USA, July 31--August 4, 2005.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Dellby, N, Krivanek, O, Murfitt, M, Nellist, P
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: 2005
Նկարագրություն
Ամփոփում:Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2005 in Honolulu, Hawaii, USA, July 31--August 4, 2005.