High-resolution scanning electron microscopy of dopants in p-i-n junctions with quantum wells

High-resolution scanning electron microscopy of dopants in p-i-n junctions with quantum wells

We have studied the electric field distribution in p-i-n structures with multi-quantum wells (MQW) using the method of dopant (ionization potential) contrast in high resolution (with a cold field emission electron gun) scanning electron microscopy (HRSEM). The samples are GaAs-based ternary compound...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Barkay, Z, Grunbaum, E, Shapira, Y, Wilshaw, P, Barnham, K, Bushnell, B, Ekins-Daukes, N, Mazzer, M
Định dạng:	Conference item
Được phát hành:	2004

Những quyển sách tương tự

The electric field and dopant distribution in p-i-n structures observed by ionisation potential (dopant contrast) microscopy in the HRSEM
Bằng: Grunbaum, E, et al.
Được phát hành: (2005)

Secondary electron emission contrast of quantum wells in GaAs p-i-n junctions.
Bằng: Grunbaum, E, et al.
Được phát hành: (2009)

Scanning tunneling microscopy of buried dopants in silicon: images and their uncertainties
Bằng: Piotr T. Różański, et al.
Được phát hành: (2022-08-01)

Overview and loss analysis of III–V single-junction and multi-junction solar cells
Bằng: Yamaguchi Masafumi, et al.
Được phát hành: (2022-01-01)

Mechanism for secondary electron dopant contrast in the SEM
Bằng: Sealy, C, et al.
Được phát hành: (2000)

Individuality of Dopants in Silicon Nano-pn Junctions
Bằng: Daniel MORARU, et al.
Được phát hành: (2014-06-01)

The Development of Microscopy for Super-Resolution: Confocal Microscopy, and Image Scanning Microscopy
Bằng: Colin J. R. Sheppard
Được phát hành: (2021-09-01)

Building Integrated Heliostats
Bằng: Alex Lehmann, et al.
Được phát hành: (2024-10-01)

High temporal-resolution scanning transmission electron microscopy using sparse-serpentine scan pathways
Bằng: Eduardo Ortega, et al.
Được phát hành: (2021-11-01)

Scanning quantum correlation microscopy with few emitters
Bằng: Jaret J Vasquez-Lozano, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Dopant profile model in a shallow germanium n+/p junction
Bằng: Baek, Jung Woo, et al.
Được phát hành: (2014)

High resolution scanning force microscopy of cardiac myocytes.
Bằng: Davis, J, et al.
Được phát hành: (2001)

Scanning electron microscopy
Bằng: 356151 Wells, Oliver C.
Được phát hành: (1974)

Application of secondary electron dopant contrast imaging to InP/InGaAsP laser structures
Bằng: Sealy, C, et al.
Được phát hành: (1997)

Study on local indium concentration in Ga(1-x)InxN quantum wells using quantitative scanning transmission electron microscopy
Bằng: Park Daesung, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Scanning single molecule localization microscopy (scanSMLM) for super-resolution volume imaging
Bằng: Jigmi Basumatary, et al.
Được phát hành: (2023-10-01)

Scanning WAXS microscopy of regenerated cellulose fibers at mesoscopic resolution
Bằng: Sara Johansson, et al.
Được phát hành: (2024-07-01)

High resolution helium ion scanning microscopy of the rat kidney.
Bằng: William L Rice, et al.
Được phát hành: (2013-01-01)

SCANNING ELECTRON ACOUSTIC MICROSCOPY AND SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPY - A FAVORABLE COMPARISON
Bằng: Briggs, G
Được phát hành: (1984)

Quantum simulation of the Hubbard model with dopant atoms in silicon
Bằng: Salfi, J, et al.
Được phát hành: (2016)

Quantum simulation of the Hubbard model with dopant atoms in silicon
Bằng: J. Salfi, et al.
Được phát hành: (2016-04-01)

Fast and High-Resolution Imaging of Pollinated Stigmatic Cells by Tabletop Scanning Electron Microscopy
Bằng: Lucie Riglet, et al.
Được phát hành: (2024-11-01)

High-resolution imaging of the mouse-hair-cell hair bundle by scanning electron microscopy
Bằng: Nicolas Grillet
Được phát hành: (2022-03-01)

Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
Bằng: King, P, et al.
Được phát hành: (1996)

Quantitating morphological changes in biological samples during scanning electron microscopy sample preparation with correlative super-resolution microscopy.
Bằng: Ying Zhang, et al.
Được phát hành: (2017-01-01)

Scanning auger electron microscopy /
Bằng: Prutton, M, et al.
Được phát hành: (2006)

Practical scanning electron microscopy /
Bằng: Yakowitz, Harney
Được phát hành: (1975)

Scanning electron-microscopy of alloys
Bằng: Cheng, Derrick Sheng Chun
Được phát hành: (2019)

Scanning electron microscopy of dermatofibroma
Bằng: Felipe Simões Lopes Quintana, et al.
Được phát hành: (2019-07-01)

Scanning standing-wave illumination microscopy : a path to nanometer resolution in X-ray microscopy
Bằng: Hong, Stanley Seokjong, 1977-
Được phát hành: (2005)

Probing the dopant profile in nanoscale devices by low temperature electrostatic force microscopy
Bằng: Wanqing Wang, et al.
Được phát hành: (2019-12-01)

DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
Bằng: King, P, et al.
Được phát hành: (1993)

Visualization and analysis of active dopant distribution in a p-i-n structured amorphous silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy
Bằng: K. Hirose, et al.
Được phát hành: (2015-09-01)

Machine learning assisted quantum super-resolution microscopy
Bằng: Zhaxylyk A. Kudyshev, et al.
Được phát hành: (2023-08-01)

Stochastically structured illumination microscopy scan less super resolution imaging
Bằng: Denzel Fusco, et al.
Được phát hành: (2024-11-01)

Demonstration of an AI-driven workflow for autonomous high-resolution scanning microscopy
Bằng: Saugat Kandel, et al.
Được phát hành: (2023-09-01)

Correlative 3D microscopy of single cells using super-resolution and scanning ion-conductance microscopy
Bằng: Vytautas Navikas, et al.
Được phát hành: (2021-07-01)

The role of the dopant in the electronic structure of erbium-doped TiO2 for quantum emitters
Bằng: J. B. Martins, et al.
Được phát hành: (2024-12-01)

Correlative transmission electron microscopy and scanning electron microscopy of rabbit cornea.
Bằng: Othman, Fauziah, et al.
Được phát hành: (2010)

Measurement of Diffusion and Segregation in Semiconductor Quantum Dots and Quantum Wells by Transmission Electron Microscopy: A Guide
Bằng: Thomas Walther
Được phát hành: (2019-06-01)