Wilshaw, P., & Fell, T. (1995). Electron beam induced current investigations of transition metal impurities at extended defects in silicon. Electrochemical Soc Inc.
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումWilshaw, P., and T. Fell. Electron Beam Induced Current Investigations of Transition Metal Impurities at Extended Defects in Silicon. Electrochemical Soc Inc, 1995.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումWilshaw, P., and T. Fell. Electron Beam Induced Current Investigations of Transition Metal Impurities at Extended Defects in Silicon. Electrochemical Soc Inc, 1995.
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.