White, G., Seryi, A., Woodley, M., Marin, E., Kamiya, Y., Bai, S., . . . Yamanaka, T. (2010). Operational experiences tuning the ATF2 final focus optics towards obtaining A 37 nano-meter electron beam IP spot size.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)White, G., et al. Operational Experiences Tuning the ATF2 Final Focus Optics Towards Obtaining A 37 Nano-meter Electron Beam IP Spot Size. 2010.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)White, G., et al. Operational Experiences Tuning the ATF2 Final Focus Optics Towards Obtaining A 37 Nano-meter Electron Beam IP Spot Size. 2010.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.