Owen, R., Holton, J., Schulze-Briese, C., & Garman, E. (2009). Determination of X-ray flux using silicon pin diodes. International Union of Crystallography.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Owen, R., J. Holton, C. Schulze-Briese, та E. Garman. Determination of X-ray Flux Using Silicon Pin Diodes. International Union of Crystallography, 2009.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Owen, R., et al. Determination of X-ray Flux Using Silicon Pin Diodes. International Union of Crystallography, 2009.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.