Determination of X-ray flux using silicon pin diodes

Accurate measurement of photon flux from an X-ray source, a parameter required to calculate the dose absorbed by the sample, is not yet routinely available at macromolecular crystallography beamlines. The development of a model for determining the photon flux incident on pin diodes is described here...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Owen, R, Holton, J, Schulze-Briese, C, Garman, E
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: International Union of Crystallography 2009
Խորագրեր:

Նմանատիպ նյութեր