Javer, A., Rittscher, J., & Sailem, H. (2020). DeepScratch: Single-cell based topological metrics of scratch wound assays. Elsevier.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Javer, A., J. Rittscher, e HZ Sailem. DeepScratch: Single-cell Based Topological Metrics of Scratch Wound Assays. Elsevier, 2020.
Citação MLA (9ª ed.)Javer, A., et al. DeepScratch: Single-cell Based Topological Metrics of Scratch Wound Assays. Elsevier, 2020.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.