Filamentary high-resolution electrical probes for nanoengineering

Confining electric fields to a nanoscale region is challenging yet crucial for applications such as high resolution probing of electrical properties of materials and electric-field manipulation of nanoparticles. State-of-the-art techniques involving atomic force microscopy typically have a lateral r...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Soh, EJH, Sarwat, GS, Mazzotta, G, Porter, BF, Riede, M, Nicholas, R, Kim, JS, Bhaskaran, H
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: American Chemical Society 2020
Những chủ đề:

Những quyển sách tương tự