Grovenor, C., Cerezo, A., & Smith, G. (1983). FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Grovenor, C., A. Cerezo, و G. Smith. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Grovenor, C., et al. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.