Grovenor, C., Cerezo, A., & Smith, G. (1983). FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Grovenor, C., A. Cerezo, και G. Smith. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Grovenor, C., et al. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.