Grovenor, C., Cerezo, A., & Smith, G. (1983). FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Grovenor, C., A. Cerezo, i G. Smith. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Grovenor, C., et al. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..