APA-referens (7:e uppl.)

Grovenor, C., Cerezo, A., & Smith, G. (1983). FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics.

Chicago-referens (17:e uppl.)

Grovenor, C., A. Cerezo, och G. Smith. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.

MLA-referens (9:e uppl.)

Grovenor, C., et al. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.

Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.