Стиль цитування APA (7-ме видання)

Grovenor, C., Cerezo, A., & Smith, G. (1983). FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Grovenor, C., A. Cerezo, та G. Smith. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Grovenor, C., et al. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.