Grovenor, C., Cerezo, A., & Smith, G. (1983). FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Grovenor, C., A. Cerezo, và G. Smith. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Grovenor, C., et al. FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS. Inst of Physics, 1983.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.