FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	Grovenor, C, Cerezo, A, Smith, G
Médium:	Journal article
Jazyk:	English
Vydáno:	Inst of Physics 1983

Podobné jednotky

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1985)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Autor: Godfrey, T, a další
Vydáno: (1989)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
Autor: Rose, J, a další
Vydáno: (1986)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1990)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1986)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1987)

APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1994)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1988)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Autor: Smith, G, a další
Vydáno: (1994)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1994)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1992)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1986)

TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Autor: Beaven, P, a další
Vydáno: (1980)

QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Autor: Smith, G
Vydáno: (1987)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
Autor: Sha, W, a další
Vydáno: (1991)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
Autor: Larson, D, a další
Vydáno: (1999)

A FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-BEARING MARAGING-STEEL
Autor: Sha, W, a další
Vydáno: (1989)

Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials/
Autor: 224259 Belk, J. A.
Vydáno: (1979)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1990)

Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
Autor: Larson, D, a další
Vydáno: (1998)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A MODEL FE-NI-CO-MO MARAGING-STEEL
Autor: Sha, W, a další
Vydáno: (1992)

AN INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED AL-CR ALLOY USING FIELD-ION MICROSCOPY ATOM PROBE ANALYSIS AND HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY
Autor: Shollock, B, a další
Vydáno: (1988)

Field ion microscopy and 3-D atom probe analysis of Al3Zr particles in 7050 Al alloy.
Autor: Sha, G, a další
Vydáno: (2005)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1985)

Microanalysis at the atomic level
Autor: Pennycook, S, a další
Vydáno: (1995)

Optimisation of mass ranging for atom probe microanalysis and application to the corrosion processes in Zr alloys.
Autor: Hudson, D, a další
Vydáno: (2011)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
Autor: Hono, K., a další
Vydáno: (1998-01-01)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Autor: Mueller, M, a další
Vydáno: (2011)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Autor: Mueller, M, a další
Vydáno: (2012)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

Microscopy and microanalysis [jurnal elektronik]

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1988)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
Autor: Dagan, M, a další
Vydáno: (2015)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Autor: Müller, M, a další
Vydáno: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Autor: Muller, M, a další
Vydáno: (2010)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography
Autor: Dagan, M, a další
Vydáno: (2015)

Electron and microscopy and microanalysis ; principles and applications /
Autor: 184792 Murr, Lawrence E.
Vydáno: (1982)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (2001)