Tweddle, D., Shaw, E., Douglas, J., Bonilla, R., Moody, M., Hamer, P., & Wilshaw, P. (2018). Atom probe Tomography of fast-diffusing impurities and the effect of gettering in multicrystalline silicon. AIP Publishing.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Tweddle, D., E. Shaw, J. Douglas, R. Bonilla, M. Moody, P. Hamer, và P. Wilshaw. Atom Probe Tomography of Fast-diffusing Impurities and the Effect of Gettering in Multicrystalline Silicon. AIP Publishing, 2018.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Tweddle, D., et al. Atom Probe Tomography of Fast-diffusing Impurities and the Effect of Gettering in Multicrystalline Silicon. AIP Publishing, 2018.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.