Reduced microwave attenuation in coplanar waveguides using deep level impurity compensated Czochralski-silicon substrates
We show that deep level doping of Czochralski-grown silicon wafers is capable of providing high resistivity handle wafers suitable for radio frequency integrated circuits. Starting from n-type Czochralski silicon wafers having a nominal resistivity of 50 Ω cm, we use ion implantation and subsequent...
Автори: | Abuelgasim, A, Mallik, K, Ashburn, P, Jordan, D, Wilshaw, P, Falster, R, Groot, d |
---|---|
Формат: | Journal article |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2011
|
Схожі ресурси
-
Deep level impurity engineered semi-insulating Cz-silicon as microwave substrates
за авторством: Mallik, K, та інші
Опубліковано: (2011) -
Semi-insulating Czochralski-silicon for radio frequency applications
за авторством: Mallik, K, та інші
Опубліковано: (2006) -
Enhancement of resistivity of Czochralski silicon by deep level manganese doping
за авторством: Mallik, K, та інші
Опубліковано: (2006) -
The Development of Semi-Insulating Silicon Substrates for Microwave Devices
за авторством: Jordan, D, та інші
Опубліковано: (2010) -
Generation of dislocation glide loops in Czochralski silicon
за авторством: Giannattasio, A, та інші
Опубліковано: (2002)