TWO-DIMENSIONAL CONDUCTIVITY IN THE CONTACT REGIONS OF SILICON MOSFETS
Asıl Yazarlar: | Kressrogers, E, Nicholas, R, Englert, T, Pepper, M |
---|---|
Materyal Türü: | Journal article |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
1980
|
Benzer Materyaller
-
CYCLOTRON-RESONANCE STUDIES ON BULK AND TWO-DIMENSIONAL CONDUCTION ELECTRONS IN INSE
Yazar:: Kressrogers, E, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1982) -
THE CYCLOTRON-RESONANCE LINEWIDTH IN TWO-DIMENSIONAL ELECTRON ACCUMULATION LAYERS IN INSE
Yazar:: Kressrogers, E, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1983) -
ELECTRON-TRANSPORT IN SILICON INVERSION-LAYERS AT HIGH MAGNETIC-FIELDS AND THE INFLUENCE OF SUBSTRATE BIAS
Yazar:: Nicholas, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1980) -
TWO-DIMENSIONAL BEHAVIOR DUE TO ELECTRONS BOUND AT DEFECTS IN INSE
Yazar:: Nicholas, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1982) -
Two-dimensional analytical threshold voltage model of nanoscale strained silicon MOSFET with tri-material gate /
Yazar:: Muhamad Syahir Tumaran, 1987-, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)