AFM investigation of Martian soil simulants on micromachined Si substrates.
The micro and nanostructures of Martian soil simulants with particles in the micrometre-size range have been studied using a combination of optical and atomic force microscopy (AFM) in preparation for the 2007 NASA Phoenix Mars Lander mission. The operation of an atomic force microscope on samples o...
Հիմնական հեղինակներ: | Vijendran, S, Sykulska, H, Pike, W |
---|---|
Ձևաչափ: | Journal article |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
2007
|
Նմանատիպ նյութեր
-
AFM investigation of Martian soil simulants on micromachined Si substrates
: Vijendran, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2007) -
Quantification of the dry history of the Martian soil inferred from in situ microscopy
: Pike, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2011) -
Quantification of the dry history of the Martian soil inferred from in situ microscopy
: Pike, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2011) -
SELF-ASSEMBLY OF NANOSCALE POLYMER DOMAINS IN MICROSTRUCTURE TEMPLATE MADE BY AFM MICROMACHINING TECHNIQUE
: ZOU XinYu, և այլն
Հրապարակվել է: (2019-01-01) -
AFM-IR investigation of thin PECVD SiOx films on a polypropylene substrate in the surface-sensitive mode
: Hendrik Müller, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-05-01)