Nelson, A., Toleikis, S., Chapman, H., Bajt, S., Krzywinski, J., Chalupsky, J., . . . Pelka, J. (2009). Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions. Optical Society of American (OSA).
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Nelson, A., et al. Soft X-ray Free Electron Laser Microfocus for Exploring Matter Under Extreme Conditions. Optical Society of American (OSA), 2009.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Nelson, A., et al. Soft X-ray Free Electron Laser Microfocus for Exploring Matter Under Extreme Conditions. Optical Society of American (OSA), 2009.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.