Behan, G., & Nellist, P. (2008). Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Behan, G., та P. Nellist. Optical Depth Sectioning in the Aberration-corrected Scanning Transmission and Scanning Confocal Electron Microscope. 2008.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Behan, G., та P. Nellist. Optical Depth Sectioning in the Aberration-corrected Scanning Transmission and Scanning Confocal Electron Microscope. 2008.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.