Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Optical depth sectioning in th...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Behan, G
,
Nellist, P
Định dạng:
Conference item
Được phát hành:
2008
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Miêu tả
Tóm tắt:
Những quyển sách tương tự
Optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Bằng: Behan, G, et al.
Được phát hành: (2009)
Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)
Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
Bằng: Wang, P, et al.
Được phát hành: (2009)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)