İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Optical depth sectioning in th...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Behan, G
,
Nellist, P
Materyal Türü:
Conference item
Baskı/Yayın Bilgisi:
2008
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
Optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Yazar:: Behan, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)
Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
Yazar:: Nellist, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
Yazar:: Nellist, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)
Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
Yazar:: Wang, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Yazar:: Nellist, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)