Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Optical depth sectioning in th...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Behan, G
,
Nellist, P
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
2008
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
Optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Tekijä: Behan, G, et al.
Julkaistu: (2009)
Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (2008)
Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
Tekijä: Wang, P, et al.
Julkaistu: (2009)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (2008)