Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Optical depth sectioning in th...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Бібліографічні деталі
Автори:
Behan, G
,
Nellist, P
Формат:
Conference item
Опубліковано:
2008
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
за авторством: Behan, G, та інші
Опубліковано: (2009)
Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)
Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
за авторством: Wang, P, та інші
Опубліковано: (2009)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)