NanoSIMS imaging and analysis in materials science

High-resolution SIMS analysis can be used to explore a wide range of problems in material science and engineering materials, especially when chemical imaging with good spatial resolution (50–100 nm) can be combined with efficient detection of light elements and precise separation of isotopes and iso...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Li, K, Liu, J, Grovenor, CRM, Moore, KL
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Annual Reviews 2020

Những quyển sách tương tự