THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY

THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Cockayne, D
Ձևաչափ:	Journal article
Հրապարակվել է:	1972

Նմանատիպ նյութեր

WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
‌: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1981)

PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
‌: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1973)

Applications of the weak beam technique of electron microscopy
‌: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1999)

DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
‌: Cockayne, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1979)

STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
‌: Yoshida, H, և այլն
Հրապարակվել է: (1976)

DETERMINATION OF GEOMETRY AND NATURE OF SMALL FRANK LOOPS USING WEAK-BEAM METHOD
‌: Jenkins, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1973)

The benefits of energy-filtering in weak-beam microscopy
‌: Jenkins, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2003)

WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY ANALYSIS OF DEFECT CLUSTERS IN HEAVY-ION IRRADIATED SILVER AND COPPER
‌: Jenkins, M
Հրապարակվել է: (1974)

STUDIES OF LATTICE-DEFECTS USING WEAK DIFFRACTED BEAMS
‌: Cockayne, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1975)

CALCULATED ASYMMETRY FOR WEAK BEAM INTRINSIC STACKING-FAULT IMAGES
‌: Wilson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1985)

INVESTIGATIONS OF DISLOCATION STRAIN FIELDS USING WEAK BEAMS
‌: Cockayne, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1969)

ADVANCED TECHNIQUES OF ELECTRON-MICROSCOPY FOR STUDYING MATERIALS
‌: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1985)

13TH AUSTRALIAN CONFERENCE ON ELECTRON-MICROSCOPY, FEBRUARY-1994
‌: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1994)

WEAK-BEAM TECHNIQUE APPLIED TO SUPERLATTICE DISLOCATIONS IN AN IRON-ALUMINIUM ALLOY
‌: Ray, I, և այլն
Հրապարակվել է: (1970)

POTENTIALITIES AND LIMITATIONS OF HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY OF CRYSTAL LATTICES AND THEIR IMPERFECTIONS
‌: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1975)

Automatic beam optimization method for scanning electron microscopy based on electron beam Kernel estimation
‌: Yunje Cho, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-06-01)

Transmission electron microscopy investigation of semiconductor quantum dots
‌: Liao, X, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)

New possibilities with aberration-corrected electron microscopy.
‌: Cockayne, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Bloch wave analysis of depth dependent strain effects in high resolution electron microscopy
‌: Nellist, P, և այլն
Հրապարակվել է: (2008)

Electron-beam broadening in electron microscopy by solving the electron transport equation
‌: Erich Müller, և այլն
Հրապարակվել է: (2020-12-01)

WEAK-BEAM TECHNIQUE APPLIED TO SUPERLATTICE DISLOCATIONS IN IRON-ALUMINUM ALLOYS .2. FOURFOLD DISSOCIATION IN DO3-TYPE ORDER
‌: Crawford, R, և այլն
Հրապարակվել է: (1973)

Microscopy of materials: modern imaging methods using electron,x-ray and ion beams /
‌: Bowen, D. Keith (David Keith), 1940-, և այլն
Հրապարակվել է: (1975)

Techniques for Reducing Beam-Induced Damage in Electron Microscopy
‌: Abedzadeh, Navid
Հրապարակվել է: (2022)

Photoemission sources and beam blankers for ultrafast electron microscopy
‌: Lixin Zhang, և այլն
Հրապարակվել է: (2019-09-01)

The cage effect of electron beam irradiation damage in cryo-electron microscopy
‌: Yi Li, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-05-01)

Correlative Analysis of Immunoreactivity in Confocal Laser-Scanning Microscopy and Scanning Electron Microscopy with Focused Ion Beam Milling
‌: Takahiro eSonomura, և այլն
Հրապարակվել է: (2013-02-01)

AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
‌: Jiang, S, և այլն
Հրապարակվել է: (1992)

Electron-beam patterned calibration structures for structured illumination microscopy
‌: Sangeetha Hari, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-11-01)

Deconvolution of electron diffraction patterns of amorphous materials formed with convergent beam.
‌: McBride, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2003)

Broad ion beam milling of focused ion beam prepared transmission electron microscopy cross-section specimens for high resolution electron microscopy using silicon support membranes
‌: Langford, R, և այլն
Հրապարակվել է: (2001)

CRITICAL THICKNESS DETERMINATION OF INXGA1-XAS/GAAS STRAINED-LAYER SYSTEM BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
‌: Zou, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)

Celebrations in Pioneering Electron Microscopy: A Symposium in Honor of Professor Archie Howie-Introduction.
‌: Gai, P, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)

Transmission electron microscopy study of InxGa1-xAs quantum dots on a GaAs(001) substrate
‌: Zou, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1999)

Electron microscopy : methods and protocols /
‌: Kuo, John
Հրապարակվել է: (2007)

Hypothesis for a mechanism of beam-induced motion in cryo-electron microscopy
‌: Robert E. Thorne
Հրապարակվել է: (2020-05-01)

3D magnetic imaging using electron vortex beam microscopy
‌: Frank Barrows, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-12-01)

Active control of bright electron beams with RF optics for femtosecond microscopy
‌: J. Williams, և այլն
Հրապարակվել է: (2017-07-01)

OPTIMIZATION AND CHARACTERIZATION OF ELECTRON BEAM RESIST USING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
‌: - Sutikno
Հրապարակվել է: (2012-01-01)

A quantitative method for measuring small residual beam tilts in high-resolution transmission electron microscopy
‌: Ming, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2017)

Weakly Supervised Image Segmentation for Detecting Defects From Scanning Electron Microscopy Images in Semiconductor
‌: Younghwan Lee, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-01-01)