تخطي إلى المحتوى

VuFind

- English
- Deutsch
- Español
- Français
- Italiano
- 日本語
- Nederlands
- Português
- Português (Brasil)
- 中文(简体)
- 中文（繁體）
- Türkçe
- עברית
- Gaeilge
- Cymraeg
- Ελληνικά
- Català
- Euskara
- Русский
- Čeština
- Suomi
- Svenska
- polski
- Dansk
- slovenščina
- اللغة العربية
- বাংলা
- Galego
- Tiếng Việt
- Hrvatski
- हिंदी
- Հայերէն
- Українська
- Sámegiella
- Монгол

بحث متقدم

THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...

استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
رابط دائم

THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY

THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Cockayne, D
التنسيق:	Journal article
منشور في:	1972

المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي

مواد مشابهة

WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
حسب: Cockayne, D
منشور في: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
حسب: Cockayne, D
منشور في: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
حسب: Cockayne, D
منشور في: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
حسب: Cockayne, D, وآخرون
منشور في: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
حسب: Yoshida, H, وآخرون
منشور في: (1976)

خيارات البحث

سجل البحث
بحث متقدم

ابحث عن المزيد

استعراض الفهرس
استعرض أبجدياً
اكتشف القنوات
الحجز الأكاديمي
مواد جديدة

تحتاج مساعدة ؟

إرشادات حول معاملات البحث
إسأل أخصائي مكتبات
الأسئلة الشائعة