Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:
Cockayne, D
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
1972
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
nork: Cockayne, D
Argitaratua: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
nork: Cockayne, D
Argitaratua: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
nork: Cockayne, D
Argitaratua: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
nork: Cockayne, D, et al.
Argitaratua: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
nork: Yoshida, H, et al.
Argitaratua: (1976)