Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoir:
Cockayne, D
Formáid:
Journal article
Foilsithe / Cruthaithe:
1972
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
de réir: Cockayne, D
Foilsithe / Cruthaithe: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
de réir: Cockayne, D
Foilsithe / Cruthaithe: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
de réir: Cockayne, D
Foilsithe / Cruthaithe: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
de réir: Cockayne, D, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
de réir: Yoshida, H, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1976)