Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:
Cockayne, D
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
1972
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Cockayne, D
יצא לאור: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Cockayne, D
יצא לאור: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
מאת: Cockayne, D
יצא לאור: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Cockayne, D, et al.
יצא לאור: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Yoshida, H, et al.
יצא לאור: (1976)