Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:
Cockayne, D
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
1972
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
: Cockayne, D
Հրապարակվել է: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
: Cockayne, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
: Yoshida, H, և այլն
Հրապարակվել է: (1976)