Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Бібліографічні деталі
Автор:
Cockayne, D
Формат:
Journal article
Опубліковано:
1972
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Cockayne, D
Опубліковано: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Cockayne, D
Опубліковано: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
за авторством: Cockayne, D
Опубліковано: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Yoshida, H, та інші
Опубліковано: (1976)