Nanoscale structural analysis of amorphous materials
Reduced density function (G(r)) analysis of energy filtered electron diffraction data provides structural information from small volumes of amorphous materials. Improvements in transmission electron microscopes, energy filters and data recording devices (CCDs) have made it possible to perform G(r) a...
Հիմնական հեղինակներ: | McBride, W, Cockayne, D |
---|---|
Ձևաչափ: | Conference item |
Հրապարակվել է: |
2001
|
Նմանատիպ նյութեր
-
The structure of nanovolumes of amorphous materials
: McBride, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2003) -
Deconvolution of electron diffraction patterns of amorphous materials formed with convergent beam.
: McBride, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2003) -
Electron diffraction from nanovolumes of amorphous material using coherent convergent illumination.
: McBride, W, և այլն
Հրապարակվել է: (2003) -
Characterization of Amorphous Materials by Electron Diffraction and Atomistic Modeling.
: Cockayne, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2000) -
Radial distribution function analysis of the amorphous barrier layer in magnetic spin tunnel junctions
: Ozkaya, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)