Nanoscale structural analysis of amorphous materials
Reduced density function (G(r)) analysis of energy filtered electron diffraction data provides structural information from small volumes of amorphous materials. Improvements in transmission electron microscopes, energy filters and data recording devices (CCDs) have made it possible to perform G(r) a...
Автори: | McBride, W, Cockayne, D |
---|---|
Формат: | Conference item |
Опубліковано: |
2001
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
The structure of nanovolumes of amorphous materials
за авторством: McBride, W, та інші
Опубліковано: (2003) -
Deconvolution of electron diffraction patterns of amorphous materials formed with convergent beam.
за авторством: McBride, W, та інші
Опубліковано: (2003) -
Electron diffraction from nanovolumes of amorphous material using coherent convergent illumination.
за авторством: McBride, W, та інші
Опубліковано: (2003) -
Characterization of Amorphous Materials by Electron Diffraction and Atomistic Modeling.
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (2000) -
Radial distribution function analysis of the amorphous barrier layer in magnetic spin tunnel junctions
за авторством: Ozkaya, D, та інші
Опубліковано: (2004)