Unscrambling mixed elements using high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy.
The development of new nanocrystals with outstanding physico-chemical properties requires a full three-dimensional (3D) characterization at the atomic scale. For homogeneous nanocrystals, counting the number of atoms in each atomic column from high angle annular dark field (HAADF) scanning transmiss...
প্রধান লেখক: | van den Bos, K, De Backer, A, Martinez, G, Winckelmans, N, Bals, S, Nellist, P, Van Aert, S |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
American Physical Society
2016
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Element specific atom counting at the atomic scale by combining high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy and energy dispersive X-ray spectroscopy
অনুযায়ী: De Backer, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022) -
Dose limited reliability of quantitative annular dark field scanning transmission electron microscopy for nano-particle atom-counting.
অনুযায়ী: De Backer, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015) -
Recent breakthroughs in scanning transmission electron microscopy of small species
অনুযায়ী: Karel Hendrik Wouter van den Bos, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018-01-01) -
Thickness dependence of scattering cross-sections in quantitative scanning transmission electron microscopy
অনুযায়ী: Martinez, G, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018) -
Control of knock-on damage for 3D atomic scale quantification of nanostructures: Making every electron count in scanning transmission electron microscopy
অনুযায়ী: Van Aert, S, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2019)