Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
INVESTIGATIONS OF METAL-SILICO...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Grovenor, C
,
Smith, G
פורמט:
Journal article
שפה:
English
יצא לאור:
1983
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1982)
ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1989)
APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1985)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1985)