Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
INVESTIGATIONS OF METAL-SILICO...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Grovenor, C
,
Smith, G
Materialtyp:
Journal article
Språk:
English
Publicerad:
1983
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Liknande verk
THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
av: Grovenor, C, et al.
Publicerad: (1982)
ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
av: Grovenor, C, et al.
Publicerad: (1989)
APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
av: Cerezo, A, et al.
Publicerad: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
av: Grovenor, C, et al.
Publicerad: (1985)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
av: Cerezo, A, et al.
Publicerad: (1985)